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导入案例
       
 

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信息处理器

 
分BIN机
分BIN机
可以检测的产品

与本公司的LED测试仪组合,可以对LED进行检测、分类。分类可多达512种。
(图片左:渋谷工业株式会社导入案例) 图片右:日本Garter株式会社导入案例)

 

编带机

 
编带机
编带机
可以检测的产品

以LED为检测对象,作为分类后的编带工序中的最终检查,可以检测电学特性以及颜色混杂。最适合编带或者装袋等。
(图片左:渋谷工业株式会社导入案例) 图片右:日本Garter株式会社导入案例)

 

探测器

 
LED晶片探测器
LED晶片探测器
可以检测的产品

通过与本公司产品组合,可以进行高精度、高速检测,并根据检测结果进行分类输出,将检测结果显示出来以及向打印机等输出(包括检测结果数据、晶片图等)。
(图片:东京精密株式会社导入案例)

 
 

芯片分类机

 
芯片分类机
芯片分类机

可以检测的产品

通过与本公司产品组合,可以进行高精度、高速检测,并根据检测结果进行分类、输出、归类。还可将检测结果显示出来以及向打印机等输出(包括检测结果数据等)。
(图片:NEC Engineering株式会社导入案例)

 

老化系统

 
LED老化系统
LED老化系统
可以检测的产品

本公司产品可以进行老化处理以及可靠性评估测试。在对产品可靠性的要求越来越高的今天,可以在进行温度循环老化(加速试验等)的同时进行定期检测,老化时间可设定在1H~9999H的范围,并对检测结果的变化进行监控,检测数据最小可按1H单位进行记录,即使在测试过程中也可以任意下载。

为了把握故障模式和故障率,提高LED的可靠性,进行老化评估是最适宜的方法。